热电阻校验装置 型号DP17371
实验目的：
可标定热电阻及低温热电偶。

热电阻校验装置主要配置：
配用半导体制冷，试验管内制冷温度最低可达-20℃；加热温度可达+200℃。PID温度调节控温，电阻器。配有信号输入巡检仪作为被校热电阻的信号采集，也可以作为铜——康铜热电偶的校正信号采集，可配套不锈钢实验台。

热电阻校验装置技术参数：
1、输入电源：单相AC220V±10% 50Hz，功率1.0KW。
2、采用半导体制冷，试验管内制冷温度最低可达到实时温度低3 4℃，加热温度可达+120℃。实验管制冷、加热工作电源由低压大功率开关电源供电。
3、温度测量：测量系统配置有智能温度控制仪表（PID调节控温，精度 ±0.2℃），PID调压模块电路。
4、外形尺寸：1000×500×1200mm，外形为不锈钢可移动支架，带双刹车轮。

热电阻校验装置 型号DP17371
实验目的：
可标定热电阻及低温热电偶。

热电阻校验装置主要配置：
配用半导体制冷，试验管内制冷温度最低可达-20℃；加热温度可达+200℃。PID温度调节控温，电阻器。配有信号输入巡检仪作为被校热电阻的信号采集，也可以作为铜——康铜热电偶的校正信号采集，可配套不锈钢实验台。

热电阻校验装置技术参数：
1、输入电源：单相AC220V±10% 50Hz，功率1.0KW。
2、采用半导体制冷，试验管内制冷温度最低可达到实时温度低3 4℃，加热温度可达+120℃。实验管制冷、加热工作电源由低压大功率开关电源供电。
3、温度测量：测量系统配置有智能温度控制仪表（PID调节控温，精度 ±0.2℃），PID调压模块电路。
4、外形尺寸：1000×500×1200mm，外形为不锈钢可移动支架，带双刹车轮。