半导体粉末电阻率测试仪 型号：DP15898

半导体粉末电阻率测试仪电流输出为 10 µA - 100 mA ，电阻率测试范围为 10 ^-2 - 10 ⁵ Ω cm ，直接采用数字显示。配置不同的测试架可以对半导体粉末、纳米粉末和固态金属进行电阻、电阻率多用途的测量。

适用于有机、无机半导体粉末材料(包括纳米级)的电阻率测量, 也可以测量固体半导体材料，适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测量、分选和质量控制. 电阻率值直接数字显示由具有加压系统, 高度测量的测试台和仪器组成.

仪器主要包括电气箱和测试架两部分，电气测试部分由直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感器，加压机构和粉末标准容器组成。压力机构采用手动操作、压力平稳。并有自校功能。

本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、院校、科研部门、是检验和分析固态、粉态和纳米样品工具。

半导体粉末电阻率测试仪技术参数；

00001. 测量范围：

· 电阻 10^-4 - 10⁵ Ω, 分辨率 10^-4 Ω

· 电阻率 10^-4 - 10⁵ Ω.cm，分辨率 10^-4 Ω.cm

测量误差 ±（0.3% 读数 + 2 字）

00001. 测量电压量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 µV
测量精度: ±（0.3% 读数 + 2 字）

00002. 测量电流：0 - 100 mA 连续可调，
电流量程：10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA

00003. 试样粒度：40 目以下 - 60 目以上（标准筛网）纳米粉末

00004. 试样容器：内腔Φ16.30 ± 0.1mm

00005. 试样高度：16mm ± 0.5mm
测量误差：±0.1mm

00006. 取样压力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)
压力量程：0 - 100 kg 可调

00007. 显示方式: 电阻、电阻率、压力为 3 1/2 数字显示,并自动显示单位和小数点

00008. 电源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗

00009. 外形尺寸电气箱：440mm×120mm×320mm

00010. 备有粉末测试架和固态标准样品测试台供选用

半导体粉末电阻率测试仪 型号：DP15898

半导体粉末电阻率测试仪电流输出为 10 µA - 100 mA ，电阻率测试范围为 10 ^-2 - 10 ⁵ Ω cm ，直接采用数字显示。配置不同的测试架可以对半导体粉末、纳米粉末和固态金属进行电阻、电阻率多用途的测量。

适用于有机、无机半导体粉末材料(包括纳米级)的电阻率测量, 也可以测量固体半导体材料，适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测量、分选和质量控制. 电阻率值直接数字显示由具有加压系统, 高度测量的测试台和仪器组成.

仪器主要包括电气箱和测试架两部分，电气测试部分由直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感器，加压机构和粉末标准容器组成。压力机构采用手动操作、压力平稳。并有自校功能。

本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、院校、科研部门、是检验和分析固态、粉态和纳米样品工具。

半导体粉末电阻率测试仪技术参数；

00001. 测量范围：

· 电阻 10^-4 - 10⁵ Ω, 分辨率 10^-4 Ω

· 电阻率 10^-4 - 10⁵ Ω.cm，分辨率 10^-4 Ω.cm

测量误差 ±（0.3% 读数 + 2 字）

00001. 测量电压量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 µV
测量精度: ±（0.3% 读数 + 2 字）

00002. 测量电流：0 - 100 mA 连续可调，
电流量程：10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA

00003. 试样粒度：40 目以下 - 60 目以上（标准筛网）纳米粉末

00004. 试样容器：内腔Φ16.30 ± 0.1mm

00005. 试样高度：16mm ± 0.5mm
测量误差：±0.1mm

00006. 取样压力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)
压力量程：0 - 100 kg 可调

00007. 显示方式: 电阻、电阻率、压力为 3 1/2 数字显示,并自动显示单位和小数点

00008. 电源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗

00009. 外形尺寸电气箱：440mm×120mm×320mm

00010. 备有粉末测试架和固态标准样品测试台供选用