DP15888 半导电电阻测试仪的详细资料 | ||||||||||||||
半导电电阻测试仪 型号:DP15888 半导电电阻测试仪采用四端子测量法,能够消除接触电阻所引起的测量误差,这方面是采用任何高阻计或兆欧表测量所不能达到的,可以对半导电材料的106~108Ω的中高值电阻做测量,仪器具有操作方便。 半导电电阻测试仪主要技术指标:
1. 工作条件:温度:23±2°C; 2. 测量量程:2兆欧、20兆欧、200兆欧 3. 测量误差:2兆欧档 ±(0.5 %读数+2字) 20兆欧档 ±(2 %读数+2字) 200兆欧档 ±(3 %读数+2字) 4. 测量电流: 1微安、0.1微安、0.01微安、定值输出 5. 显 示:3
6. 电 源:交流 220V±10% 50HZ或60HZ
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