电阻率四探针测试仪型号：DP13218

电阻率四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

参数设定、功能转换采用一旋钮输入；有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用耐磨碳化钨探针制成，游移率小、测试结果由数字表头直接显示。

三、电阻率四探针测试仪技术参数

1. 测量范围、分辨率

电    阻：     1.0×10^-2 ～ 2000 Ω,    分辨率0.1×10^-3 ～ 0.1×10 Ω

电 阻 率：     1.0×10^-3～ 2000 Ω-cm  分辨率0.1×10^-2 ～ 0.1 Ω-cm

方块电阻：     1.0×10^-3 ～ 2000Ω/□  分辨率1.0×10^-1 ～ 0.1×10 Ω/□

2. 可测半导体材料尺寸（手持式）

直        径：  测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

长（或高）度：  测试台直接测试方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程划分及误差等级

4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或电池供电

5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

净   重：≤0.5kg

电阻率四探针测试仪型号：DP13218

电阻率四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

参数设定、功能转换采用一旋钮输入；有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用耐磨碳化钨探针制成，游移率小、测试结果由数字表头直接显示。

三、电阻率四探针测试仪技术参数

1. 测量范围、分辨率

电    阻：     1.0×10^-2 ～ 2000 Ω,    分辨率0.1×10^-3 ～ 0.1×10 Ω

电 阻 率：     1.0×10^-3～ 2000 Ω-cm  分辨率0.1×10^-2 ～ 0.1 Ω-cm

方块电阻：     1.0×10^-3 ～ 2000Ω/□  分辨率1.0×10^-1 ～ 0.1×10 Ω/□

2. 可测半导体材料尺寸（手持式）

直        径：  测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

长（或高）度：  测试台直接测试方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程划分及误差等级

4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或电池供电

5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

净   重：≤0.5kg