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| 导电型号测试仪 型号：DP11976 导电型号测试仪 是严格按照ASTM F42（非本征半导体材料导电类型的标准测试方法）中的热探针法设计的导电类型鉴别仪。 本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在40-60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势，经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用宽表面检流计指示型号方向，并可定量测出热电流的数值大小。仪器灵敏度可调，可在广泛的电阻率（从1000Ω•cm高阻单晶到10-4Ω•cm重掺单晶）范围内判别半导体材料型号。 二、导电型号测试仪 技术性能 1、可判别锗、硅材料的电阻率范围： 锗：非本征锗～10-4Ω•cm 硅：104～10-4Ω•cm 实验证明：在室温情况下，对于电阻率低于1000Ω•cm的N型和P型硅，本方法结果可靠。 2、热电流测量范围：0～±1μA 分六个量程： ±3nA、±10nA、±30nA、±100nA、±300nA、±1μA 大偏转灵敏度：1×10-11A/格 3、锗、硅单晶直径及长度：不受限制。 4、显示方式：中心刻度为零位的宽表面指针指示器，指针向正方向偏转被测样品为P型，指针向负方向偏转被测样品为N型。 5、探针：选用ASTM F42标准中建议的不锈钢作探针材料，针尖为60°锥体，热笔温度自动保持在40-60℃范围内。冷笔与室温相同。 6、电源及功耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，耗电小于10W。 7、外型尺寸：170×160×230（mm） 8、重量：约2.5kg  |
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| DP11976 导电型号测试仪的详细资料 | ||||||||||||||
| 导电型号测试仪 型号：DP11976 导电型号测试仪 是严格按照ASTM F42（非本征半导体材料导电类型的标准测试方法）中的热探针法设计的导电类型鉴别仪。 本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在40-60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势，经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用宽表面检流计指示型号方向，并可定量测出热电流的数值大小。仪器灵敏度可调，可在广泛的电阻率（从1000Ω•cm高阻单晶到10-4Ω•cm重掺单晶）范围内判别半导体材料型号。 二、导电型号测试仪 技术性能 1、可判别锗、硅材料的电阻率范围： 锗：非本征锗～10-4Ω•cm 硅：104～10-4Ω•cm 实验证明：在室温情况下，对于电阻率低于1000Ω•cm的N型和P型硅，本方法结果可靠。 2、热电流测量范围：0～±1μA 分六个量程： ±3nA、±10nA、±30nA、±100nA、±300nA、±1μA 大偏转灵敏度：1×10-11A/格 3、锗、硅单晶直径及长度：不受限制。 4、显示方式：中心刻度为零位的宽表面指针指示器，指针向正方向偏转被测样品为P型，指针向负方向偏转被测样品为N型。 5、探针：选用ASTM F42标准中建议的不锈钢作探针材料，针尖为60°锥体，热笔温度自动保持在40-60℃范围内。冷笔与室温相同。 6、电源及功耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，耗电小于10W。 7、外型尺寸：170×160×230（mm） 8、重量：约2.5kg |
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