DP-Y2855 介电常数和介质损耗测试仪_专用仪器仪表_北京亚欧德鹏科技发展有限公司

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产品名称：DP-Y2855 介电常数和介质损耗测试仪

产品型号：DP-Y2855

品牌：亚欧

产品数量：

产品单价：面议

日期:2024-09-20

介电常数和介质损耗测试仪 型号：DP-Y2855

介电常数和介质损耗测试仪DP-Y2855

介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对绝缘材料进行介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

DP-Y2855介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是100kHz～100MHz,它能完成工作频率内材料的介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

2 介电常数和介质损耗测试仪主要技术指标：

tanδ和ε性能：

固体绝缘材料测试频率100kHz～100MHz的tanδ和ε变化的测试。

tanδ和ε测量范围：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

tanδ和ε测量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±5%

型号	DP-Y2851	DP-Y2852D	DP-Y2853D
工作频率范围	50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器	1kHz～70MHz 四位数显，数字合成精度：±50ppm	50kHz～160MHz 四位数显，数字合成精度：±50ppm
Q值测量范围	1～1000 指针，±1Q分辨率	1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率	1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率
可调电容范围	40～500 pF ΔC±3pF	40～500 pF ΔC±3pF	13～230 pF
电容测量误差	±1%±1pF	±1%±1pF	±1%±0.5pF
Q表残余电感值	约20nH	约20nH	约8nH

2.4 电感器：
按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。例如：在1MHz测试频率时，要配100μH或250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。

2.5 介质样品（选购件）：
在现行介质材料检定系统中，检定部门为介质损耗测量仪提供的测量标准是标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准性。

DP-Y2855 介电常数和介质损耗测试仪的详细资料

介电常数和介质损耗测试仪 型号：DP-Y2855

介电常数和介质损耗测试仪DP-Y2855

DP-Y2855介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是100kHz～100MHz,它能完成工作频率内材料的介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

2 介电常数和介质损耗测试仪主要技术指标：

tanδ和ε性能：

固体绝缘材料测试频率100kHz～100MHz的tanδ和ε变化的测试。

tanδ和ε测量范围：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

tanδ和ε测量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±5%

型号	DP-Y2851	DP-Y2852D	DP-Y2853D
工作频率范围	50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器	1kHz～70MHz 四位数显，数字合成精度：±50ppm	50kHz～160MHz 四位数显，数字合成精度：±50ppm
Q值测量范围	1～1000 指针，±1Q分辨率	1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率	1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率
可调电容范围	40～500 pF ΔC±3pF	40～500 pF ΔC±3pF	13～230 pF
电容测量误差	±1%±1pF	±1%±1pF	±1%±0.5pF
Q表残余电感值	约20nH	约20nH	约8nH

2.4 电感器：
按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。例如：在1MHz测试频率时，要配100μH或250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。

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