超声波测厚仪 型号:DP-T160

1 超声波测厚仪概述
DP-T160仪器是智能型超声波测厚仪，采用微处理器，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速行测量。可以对设备中各种管道和压力容器行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对板材和各种加工零件作测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金。
2 超声波测厚仪参数
l 显示方法：对比度的段码液晶显示，
l 测量范围：0.75～300mm（钢中），公制与英制可选择；
l 声速范围：1000~9999 m/s：
l 分 辨 率：0.1/0.01mm（可选）
l 示值精度： ±（0.5%H+0.04）mm H为被测物实际厚度
l 测量周期：单点测量时4次/秒、扫描模式10次/秒；
l 存储容量：可存储20组（每组多99个测量值）厚度测量数据，可与微型打印机或PC连接，实现海量存储。
l 工作电压：3V（2节AA尺寸碱性电池串联）
l 持续工作时间：约100小时（不开背光时）
l 通讯接口标准：RS232，可与微型打印机或PC连接
l 外形尺寸：150×74×32 mm
l 整机重量：245g
3 超声波测厚仪主要功能
l 适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何声波的导体的厚度；
l 可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用；
l 具有探头零点校准、两点校准功能, 可对系统误差行自动修正；
l 已知厚度可以反测声速，以提测量精度；
l 具有耦合状态提示功能；
l 有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；
l 有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量；
4 超声波测厚仪工作原理
本声波测厚仪对厚度的测量，是由探头产生声波脉冲透过耦合剂到达被测体，部分声信号被物体底面反射，探头接收由被测体底面反射的回波，地计算声波的往返时间，并按下式计算厚度值，再将计算结果显示出来。
式中：
H－测量厚度；
v－材料声速；
t－声波在试件中往返次的传播时间。

超声波测厚仪 型号:DP-T160

1 超声波测厚仪概述
DP-T160仪器是智能型超声波测厚仪，采用微处理器，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速行测量。可以对设备中各种管道和压力容器行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对板材和各种加工零件作测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金。
2 超声波测厚仪参数
l 显示方法：对比度的段码液晶显示，
l 测量范围：0.75～300mm（钢中），公制与英制可选择；
l 声速范围：1000~9999 m/s：
l 分 辨 率：0.1/0.01mm（可选）
l 示值精度： ±（0.5%H+0.04）mm H为被测物实际厚度
l 测量周期：单点测量时4次/秒、扫描模式10次/秒；
l 存储容量：可存储20组（每组多99个测量值）厚度测量数据，可与微型打印机或PC连接，实现海量存储。
l 工作电压：3V（2节AA尺寸碱性电池串联）
l 持续工作时间：约100小时（不开背光时）
l 通讯接口标准：RS232，可与微型打印机或PC连接
l 外形尺寸：150×74×32 mm
l 整机重量：245g
3 超声波测厚仪主要功能
l 适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何声波的导体的厚度；
l 可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用；
l 具有探头零点校准、两点校准功能, 可对系统误差行自动修正；
l 已知厚度可以反测声速，以提测量精度；
l 具有耦合状态提示功能；
l 有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；
l 有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量；
4 超声波测厚仪工作原理
本声波测厚仪对厚度的测量，是由探头产生声波脉冲透过耦合剂到达被测体，部分声信号被物体底面反射，探头接收由被测体底面反射的回波，地计算声波的往返时间，并按下式计算厚度值，再将计算结果显示出来。
式中：
H－测量厚度；
v－材料声速；
t－声波在试件中往返次的传播时间。