半导体粉末电阻率测试仪 型号；DP-2722
半导体粉末电阻率测试仪概述
DP-2722型半导体粉末电阻率测试仪是运用四端子法或四探针法测试粉末电阻率的测量仪器。
仪器组成： 整套仪器有主机和粉末测试台两大部分组成。
主机 是整个系统电气控制显示部分，主要由恒流源、ADC、嵌入式单片机系统单元以及压力厚度显示单元组成。
粉末测试台 是连接测试主机，用来装夹半导体粉末（含粉末和金属粉末等），进行压力施加（压片），并同步进行电阻率测试的装置（以下简称测试台）。
    测试台为粉末标准容器、电极、加压机构、压力检测、厚度检测、连接线缆等单元组成。

半导体粉末电阻率测试仪技术参数
1. 电阻率测量范围、分辨率
电 阻 率：     15.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm  分辨率1.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm
             （1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101  Ω-cm）

电阻率量程划分及误差

3. 数字电压表：
⑴量程：10mV ～ 100 mV，自动
⑵显示: 4位有效数字，显示999.9     小数点、单位自动显示
4. 数控恒流源
电流输出：直流电流0.1µA～1000mA可调，系统自动步进调整。
5.粉末测试台部分参数：
（1）、试样成份：成份不限，但不得含有对测试台和电极有腐蚀作用的成份。
（2）、试样粒度：标准以40目以下—60目以上（标准筛网），一般其他粒度也可！
（3）、试样容器：内径：Φ11.28mm（S=1.0cm2）
高度：0～20mm可调,带高度传感器监测，测量误差：±0.05mm。
（4）、测试压强
标准压强：P0=4Mpa±0.05Mpa。
     压强量程：20Mpa, P=0～20 Mpa可调。
 （5）、压力机构采用手动操作、压力平稳可调。
四位有效显示数00.00～20.00MPa，分别率±0.01 MPa。
6.测试仪外形与重量
前宽×长×总高=250mm×220 mm×540mm
重          量=10Kg
7. 电源：
功 耗：< 10W
输入:220V±10%   50Hz
8. 本仪器工作条件为：
温    度：    0-40℃
相对湿度：    ≥60%

半导体粉末电阻率测试仪 型号；DP-2722
半导体粉末电阻率测试仪概述
DP-2722型半导体粉末电阻率测试仪是运用四端子法或四探针法测试粉末电阻率的测量仪器。
仪器组成： 整套仪器有主机和粉末测试台两大部分组成。
主机 是整个系统电气控制显示部分，主要由恒流源、ADC、嵌入式单片机系统单元以及压力厚度显示单元组成。
粉末测试台 是连接测试主机，用来装夹半导体粉末（含粉末和金属粉末等），进行压力施加（压片），并同步进行电阻率测试的装置（以下简称测试台）。
    测试台为粉末标准容器、电极、加压机构、压力检测、厚度检测、连接线缆等单元组成。

半导体粉末电阻率测试仪技术参数
1. 电阻率测量范围、分辨率
电 阻 率：     15.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm  分辨率1.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm
             （1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101  Ω-cm）

电阻率量程划分及误差

3. 数字电压表：
⑴量程：10mV ～ 100 mV，自动
⑵显示: 4位有效数字，显示999.9     小数点、单位自动显示
4. 数控恒流源
电流输出：直流电流0.1µA～1000mA可调，系统自动步进调整。
5.粉末测试台部分参数：
（1）、试样成份：成份不限，但不得含有对测试台和电极有腐蚀作用的成份。
（2）、试样粒度：标准以40目以下—60目以上（标准筛网），一般其他粒度也可！
（3）、试样容器：内径：Φ11.28mm（S=1.0cm2）
高度：0～20mm可调,带高度传感器监测，测量误差：±0.05mm。
（4）、测试压强
标准压强：P0=4Mpa±0.05Mpa。
     压强量程：20Mpa, P=0～20 Mpa可调。
 （5）、压力机构采用手动操作、压力平稳可调。
四位有效显示数00.00～20.00MPa，分别率±0.01 MPa。
6.测试仪外形与重量
前宽×长×总高=250mm×220 mm×540mm
重          量=10Kg
7. 电源：
功 耗：< 10W
输入:220V±10%   50Hz
8. 本仪器工作条件为：
温    度：    0-40℃
相对湿度：    ≥60%