手持式电阻率测试仪/方块电阻率仪 型号;DP11068

手持式电阻率测试仪/方块电阻率仪概述     

DP11068型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考A.S.T.M 标准。
成套组成：由DP11068主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

手持式电阻率测试仪/方块电阻率仪基本技术参数

1. 测量范围、分辨率
电  阻:   0.010 ～ 50.00kΩ,   分辨率0.001 ～ 10 Ω
电 阻 率:   0.010～ 20.00kΩ-cm，   分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm
方块电阻:   0.050～ 100.0kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
 手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：
 直 径：DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。
 DP-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。
 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.
 测量方位: 轴向、径向均可.
 量程划分及误差等级

4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或电池供电

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

净   重：≤0.3kg

手持式电阻率测试仪/方块电阻率仪 型号;DP11068

手持式电阻率测试仪/方块电阻率仪概述     

DP11068型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考A.S.T.M 标准。
成套组成：由DP11068主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

手持式电阻率测试仪/方块电阻率仪基本技术参数

1. 测量范围、分辨率
电  阻:   0.010 ～ 50.00kΩ,   分辨率0.001 ～ 10 Ω
电 阻 率:   0.010～ 20.00kΩ-cm，   分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm
方块电阻:   0.050～ 100.0kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
 手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：
 直 径：DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。
 DP-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。
 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.
 测量方位: 轴向、径向均可.
 量程划分及误差等级

4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或电池供电

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

净   重：≤0.3kg