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数字式四探针测试仪/电阻率/方阻测试仪
产品名称:数字式四探针测试仪/电阻率/方阻测试仪
产品型号:DP-2258C
品牌:亚欧
产品数量:
产品单价: 面议
日期:2024-03-15
 数字式四探针测试仪/电阻率/方阻测试仪 型号:DP-2258C

概述
      DP-2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。 
      仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。 
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;电压电流全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪赠设测试结果分类功能,zui大分类10类。 
      探头选配:根据不同材料性需要,探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。 
      测试台选配:般四探针法测试电阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选DP-K型测试台,也可选配DP-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配DP-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的点与选型参考》 
仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等点。 
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量) 
    电    阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103  Ω 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω) 
    电 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103  Ω-cm 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm) 
    方块电阻:50.0×10-6 ~ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103  Ω/□  
               (5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103  Ω/□) 
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
    直    径: DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限 
    DP-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限. 
     长()度:  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     测量方位:  轴向、径向均可 
3. 量程划分及误差等 
满度显示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 
常规量程 kΩ-cm/□ kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ --- 
zui大拓展量程 --- kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ mΩ-cm/□ 
基本误差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB ±1.0%FSB
±4LSB

 
4.工作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W 
5.外形尺寸: 245mm(长)×220 mm(宽)×95mm()  
   净   重:≤1.5~2.0kg

数字式四探针测试仪/电阻率/方阻测试仪的详细资料
 数字式四探针测试仪/电阻率/方阻测试仪 型号:DP-2258C

概述
      DP-2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。 
      仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。 
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;电压电流全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪赠设测试结果分类功能,zui大分类10类。 
      探头选配:根据不同材料性需要,探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。 
      测试台选配:般四探针法测试电阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选DP-K型测试台,也可选配DP-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配DP-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的点与选型参考》 
仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等点。 
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量) 
    电    阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103  Ω 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω) 
    电 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103  Ω-cm 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm) 
    方块电阻:50.0×10-6 ~ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103  Ω/□  
               (5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103  Ω/□) 
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
    直    径: DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限 
    DP-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限. 
     长()度:  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     测量方位:  轴向、径向均可 
3. 量程划分及误差等 
满度显示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 
常规量程 kΩ-cm/□ kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ --- 
zui大拓展量程 --- kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ mΩ-cm/□ 
基本误差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB ±1.0%FSB
±4LSB

 
4.工作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W 
5.外形尺寸: 245mm(长)×220 mm(宽)×95mm()  
   净   重:≤1.5~2.0kg

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