DP-754型紫外可见分光光度计适用于对紫外、可见光谱区域内物质的含量行定量分析，可广泛应用于工厂、学校、冶金、农业、食品、生化、环保、石油化工、医疗卫生等单位的基础实验室。

DP-754型紫外可见分光光度计参数： 
1. 带宽：4nm 
2. 透射比准确度：±0.5%T 
3. 透射比重复性：±0.2%T 
4. 波长范围：190～1100nm(步间隔0.1nm) 
5. 波长准确度：±1.0nm(开机自动校准) 
6. 波长重复性：0.5nm 
7. 测定范围：T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999 
8. 杂散光：≤0.3%T(在220nm、340nm处)) 
9. 稳定性/基线漂移：±0.002A/h 
10. 显示器：128×64大屏幕液晶显示 
11. 外形尺寸：456*375*220(mm) 
软件功能说明：DP-754型紫外可见分光光度计适用于数据处理软件行实验测试和数据处理

DP-754型紫外可见分光光度计产品点： 
1. 自动波长，键盘输入，波长设定和转换更快速。 
2. 多可建立12个标样点的标准曲线，标定曲线拟合度，可保存50条曲线参数，可保存200条测试记录。 
3. 系统时钟管理，灯源管理，USB数据接口。 
4. 暗电流校正，波长校正，灯切换波长设置。

DP-754型紫外可见分光光度计适用于对紫外、可见光谱区域内物质的含量行定量分析，可广泛应用于工厂、学校、冶金、农业、食品、生化、环保、石油化工、医疗卫生等单位的基础实验室。

DP-754型紫外可见分光光度计参数： 
1. 带宽：4nm 
2. 透射比准确度：±0.5%T 
3. 透射比重复性：±0.2%T 
4. 波长范围：190～1100nm(步间隔0.1nm) 
5. 波长准确度：±1.0nm(开机自动校准) 
6. 波长重复性：0.5nm 
7. 测定范围：T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999 
8. 杂散光：≤0.3%T(在220nm、340nm处)) 
9. 稳定性/基线漂移：±0.002A/h 
10. 显示器：128×64大屏幕液晶显示 
11. 外形尺寸：456*375*220(mm) 
软件功能说明：DP-754型紫外可见分光光度计适用于数据处理软件行实验测试和数据处理

DP-754型紫外可见分光光度计产品点： 
1. 自动波长，键盘输入，波长设定和转换更快速。 
2. 多可建立12个标样点的标准曲线，标定曲线拟合度，可保存50条曲线参数，可保存200条测试记录。 
3. 系统时钟管理，灯源管理，USB数据接口。 
4. 暗电流校正，波长校正，灯切换波长设置。